Rasterelektronenmikroskop Supra 55 VP, Leo Electron Microscopy Ltd.

Im Bereich Analytik steht ein Rasterelektronenmikroskop mit folgender technischer Ausstattung zur Verfügung.

  • große Probenkammer mit Hoch- und Niedervakuumbetrieb
  • EDX-System Inca E 300 S/N 20845
  • EBSP- Einrichtung
  • beheizbare in-situ-Zugvorrichtung